电容电压性测试仪原理

原理
cv法利用pn结或肖基势垒在反向偏压时的电容性,可以获得材料中杂质浓度及其分布的信息,这类测量成为c-v测量。这种测量可以提供材料横截面均匀性及纵向杂质浓度的分布信息。
组成半导体器件的基本结构的pn结具有电容效应(势垒电容),加正向偏压时,pn结势垒区变窄,势垒电容变大;加反向偏压时,pn结势垒区变宽,势垒电容变小。
该仪器采用电电压测量方法,它用微处理器通过8 次电压测量来计算每次测量后要求的参数值。用个相敏检波器和模数转换器顺序快速成电压测量。正交测量通过交换测量信号的相位来行,而不是参考相位检测。因而不需要的模拟相位转换成电压矩形波电路。通过从同个频信号源形成测试信号和参考信号,来保证正确的相位关系。由微处理器根据已知的频率和测试信号相位,用rom 存储器内的程序和所存储的按键选择来控制测量顺序,以及存储在ram 中的校准数据来计算被测元件数值。
3. had-cv300参数
3.1.测试信号频率:1.000mhz±0.01%
3.2.测试信号电压:≤100mvrms
3.3.测量速率:慢3次/秒,快5次/秒
3.4.测量范围:
电容c:0.001-10000pf
漏电:0.01-19.99μa
3.5.直偏压:仪器自带偏压0.01-35v,分辨率:0.01v;(可外接偏压源拓展,zui大偏压输入为100v)
3.6.工作误差:±5.0%±2字
3.7.预热时间:30min
3.8.供电电源:
交电压:220v±10%,频率:50hz±5%,消耗功率:≤40w
3.9.工作环境
温度:0-40℃,湿度:≤65%

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