使用850nm ld光源测量多模光纤出口端的nfp案例分析
总结观察多模光纤输出端面的nfp(近场模式)。 采用850nm ld光源作为光源。 nfp测量光学系统使用我们的高性能nfp测量光学系统m-scope type s,物镜使用m-plan apo 20x。 该探测器使用我们的isa011高精度数字ccd探测器。
测量系统测量框图测量系统的配置光束nfp测量装置
光源
fc连接器输出型温控高稳定性ld光源(850nm)lsl002/850
光学
高性能光束 nfp 测量光学元件 m 型示波器 s 型
目的
20倍物镜m-计划阿波20
探测器
高精度数字ccd探测器isa011
数据处理和分析设备
光束分析模块 ap013
其他
手动3轴带载物台光纤测量光学支架op002-f3
测量结果1(光束形状分析,光束宽度测量)
使用850nm ld光源的多模光纤输出nfp的观察图像和测量结果如左图和下图所示。
水平 52.342um / 垂直 52.940um(1/e 宽度)
测量条件
整体放大倍率:20倍(物镜20倍)
像素分辨率:0.2325um
暗电流校正:是
应计数量:8
测量结果 2(环形磁通分析)
使用此组件,可以执行环形通量分析。 左图显示了在上述条件下从nfp测量图像中获得的包围磁通量测量结果。
ef 图:显示在左侧。
ef 分析条件
中心:区域重心
参考分析范围设置:30um
半径系数:1.15
分析间距:0.1um
后台处理:是(系数 1.2)
测量点系统配置光学元件选择
对于光学系统,我们选择了光束nfp测量光学系统m-scope s型。 另外,由于多模光纤芯的直径约为50um,因此我们选择了是普通型20倍的物镜。 因此,实际视场约为324um x 242um,像素分辨率为0.233um。
探测器选择
由于测量波长约为850nm,分辨率很高,因此我们选择了高精度数字ccd探测器isa011。
ef分析功能
我们的nfp分析是一种使用放大光学系统和图像检测器的图像处理分析方法。 将光束的二维光强分布捕获为图像并进行图像分析。 因此,除了正常的光束轮廓分析外,它还可用于功率分布分析,例如ef分析。 ef 分析是我们的光束分析软件 optometrics ba 标准的标准。
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