使用 4200a-scs 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。高性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。
参数查看,快速清晰。
大胆发现从未如此简单。 4200a-scs 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%,提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外,嵌入式测量专业知识可提供测试指南并让您对结果充满信心。
特点
内置英语,中文,日语和韩语版本的测量视频
使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
测量、 切换、 重复。
4200a-cviv 多通道切换模块自动在 i-v 和 c-v 测量之间切换,无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同,四通道 4200a-cviv 显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
无需重新布线即可将 c-v 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
稳定的低电流测量,适用于 i-v 检定making stable low current measurements on high capacitance test connections using the 4201-smu and 4211-smuplay video使用 4201-smu 和 4211-smu 模块,您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200a-scs 有四种型号的源测量单位 (smu) 可供选择,可通过定制满足您所有的 i-v 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块,keithley 可确保您获得准确的低电流测量,而停机时间很少甚至没有。
使用 4201-smu 和 4211-smu,通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量
特点
不必将仪器送回工厂即可增加 smu
进行 飞安测量
多达 9 个 smu 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。
4200a-scs 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 mpi cascade microtech、lucas labs/signatone、micromanipulator、wentworth laboratories、lakeshore model 336 低温控制器。
特点
“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试
降低成本并保护您的投资
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