TF lab 2020SR单点非接触式晶片电阻测试仪#技术规格
eddycus tf lab 2020sr – 非接触式单点薄层电阻测试仪
eddycus tf lab 2020sr 是一种非接触式单点薄层电阻测量系统。该设备包含一个涡流传感器组，可将微弱电流感应到导电薄膜和材料中。样本中的感应电流会产生与测量对象的薄层电阻相关的电磁场。该技术独立于表面特征或形态。此外，它不需要任何类型的充分样品接触或准备，例如从 2 点或 4 点探针测试（2pp、4pp）或霍尔效应或范德堡测量中得知。它既不需要设置测试结构，也不受表面粗糙度或非导电封装或钝化层的影响。此外，测量不会对测试的薄膜产生物理影响。由于存在机械磨损，涡流仪器具有较长的使用寿命。它独立于接触质量和高速，可实现高重复性和准确性，有利于研发和测试实验室中各种薄膜的系统质量保证。 eddycus 工具可以由具有各种数据记录和导出功能的 suragus 软件驱动，也可以由 suragus 软件开发套件驱动的客户软件驱动。
软件和设备控制
1、非常人性化的软件
2、直观的触摸显示屏导航
3、实时测量薄层电阻和层厚
4、软件辅助手动映射选项
5、各种数据保存和导出选项
eddycus tf lab 2020sr的数据表
测量技术：非接触式涡流传感器
基质：箔、玻璃、晶片等。
基底面积：8英寸/ 204毫米x 204毫米(三面开口)
最大值样品厚度/传感器间隙：3 / 5 / 10 / 25毫米(由最厚的样品确定)
金属薄膜(如铜)的厚度测量范围：2纳米–2毫米(根据薄层电阻)
设备尺寸(宽高比)：11.4英寸x 5.5英寸x 17.5英寸/ 290毫米x 140毫米x 445毫米
重量：10公斤
更多可用功能：薄层电阻测量/金属厚度监控器
vlsr
lsr
msr
hsr
vhsr
6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracy
range [ohm/sq]
0.0001 – 0.1
0.1 – 10
0.1 – 100
10 – 2000
1,000 – 200,000
accuracy / bias
± 1%
± 1 – 3%
± 3 – 5%
repeatability (2σ)
< 0.3%
< 0.5%
< 0.3%
vlsr - 极低薄层电阻 , lsr - 低薄层电阻 , msr - 中等薄层电阻 , hsr - 高薄层电阻 , vhsr - 非常高薄层电阻
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4、软件辅助手动映射选项
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基质：箔、玻璃、晶片等。
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最大值样品厚度/传感器间隙：3 / 5 / 10 / 25毫米(由最厚的样品确定)
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10 – 2000
1,000 – 200,000
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± 1%
± 1 – 3%
± 3 – 5%
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