X荧光光谱仪的优势
x荧光光谱仪分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
x射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软x射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。
非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
x射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
分析精密度。
制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
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